HAST試驗(yàn)箱適用于半導(dǎo)體芯片行業(yè),以及航空、航天、兵器、船舶、核工業(yè)、科研機(jī)構(gòu)、高等院校等領(lǐng)域的電子元器件、零部件、集成電路、材料、工藝。它通過(guò)加速高溫、高濕、高壓循環(huán)和不斷測(cè)試,確認(rèn)功能失效是由于耐久性(壽命)還是環(huán)境變化而發(fā)生。
產(chǎn)品名稱(chēng) | 高壓加速老化試驗(yàn)箱(HAST) | |
產(chǎn)品型號(hào) | HPSC251-M | HPSC252-M |
工作室容積 | 51L | 51 L × 2罐 |
工作室尺寸 | φ 380 × D450(R × D) | φ 380 × D450(R × D)× 2罐 |
儲(chǔ)罐尺寸 | φ 450 × D600(R × D) | φ 450 × D600(R × D)× 2罐 |
外部尺寸 | 1200 × 1960 × 1140毫米(寬×高×深) | 1200 × 2170 × 1140毫米(寬×高×深) |
溫度范圍 | 105℃~150℃ | |
溫度波動(dòng) | ≤±0.5℃ | |
溫度均勻性 | ≤2℃ | |
溫度偏差 | ±2℃ | |
壓力范圍 | 110kPa~300kPa(絕對(duì)壓力) |
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